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成像光谱仪的深入解读
点击次数:288 发布时间:2020-05-13
   成像光谱仪的深入解读
  成像光谱仪的结构由一个入射狭缝,一个色散体系,一个成像体系和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需求的波长或波长区域,并在选定的波长上进行强度测定。地面方针物的辐射能经过指向镜,由物镜搜集并经过狭缝增强准直照射到色散元件上,经色散元件在笔直条带方向按光谱色散,用集聚镜集聚成像在传感器运用的二维CCD面阵列勘探元件被散布在光谱仪的焦平面上。
  供给快速、简略、可重复、且更重要的是无损伤的定性定量剖析,它无需样品预备,样品可直接经过光纤探头或者经过玻璃、石英、和光纤丈量。在笔直方向调查时,除了与原入射光有相同频率的瑞利散射外,还有一系列对称散布着若干条很弱的与入射光频率发作位移的拉曼谱线。
  采用了透射型体相全息衍射光栅,其在可见光到近红外波段具有低杂散光、低吸收率特点;由于核心部分密封在玻璃或其它透明材质中,因此寿命长、容易清洁、抗刮檫,非常适合各种苛刻的野外的应用环境。之前的工作方式主要为推扫式,为了实现扫描过程,一般利用外接扫描平台带动光谱仪运行;由于扫描平台比较笨重,且增加了耗电量,给野外工作带来诸多不便,所以现在新型的成像光谱仪取消了扫描平台,改为内置式扫描设计,减轻了整机重量和能耗,而且可以直接进行垂直向下测量,更利于野外使用。
  在高光谱测量的基础上,具有图谱合一的优势,可以精确到叶片一个点去探测作物不同胁迫症状的特征,又可获取受胁迫作物面状的光谱信息,点面结合综合地反映作物遭受胁迫的程度。所以,成像光谱仪已经成为国内外研究的热点,学者们利用高光谱成像技术定量化地提取作物所遭受的各种胁迫特征,根据高分辨率的图像对叶片及叶片的局部区域进行分析,从而在更加微观的尺度上进行机理探测研究。
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